Polymer Interfaces

Prof. Dr. Peter Müller-Buschbaum

Physikdepartment E13
Lehrstuhl für Funktionelle Materialien
Technische Universität München
James-Franck-Straße 1

85747 Garching

Tel. 089/289-12452 (secretary)

Tel. 089/289-12451
Fax 089/289-12473

Email:  muellerb@ph.tum.de

E13, Raum 3278

• seit 9/2012 Associate Editor of journal ACS Applied Materials & Interfaces of the American Chemical Society


• seit 1/2012 Member of the Scientific Selection Panel of the Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie (HZB)


• seit 2011 Mitglied im European Spallation Source (ESS) Scientific Advisory Panel (Reflectivity)


• seit 2011 Deutscher Vertreter bei der European Polymer Federation (EPF) für den Bereich Polymerphysik


• seit 2011 gewähltes Mitglied im 9. Komitee Forschung mit Synchrotronstrahlung (KFS), Ressort Nutzer-Angelegenheiten


• seit 2010 Sprecher für den Bereich Regenerative Energien (NRG) in der Munich School of Engineering (MSE) der TU München


• seit 2010 Mitglied von TUMEnergie an der TU München


• seit 2010 Sprecher des Physikdepartments der TU München für den Bereich Energie


• seit 2010 Beobachter in der ESUO – European Synchrotron User Organization


• seit 2006 Universitätsprofessor, Leitung des Lehrstuhls für Funktionelle Materialien in Vertretung für Prof. Winfried Petry


• Mitglied des Wissenschaftlichen Beirates des "Instituts für Biophysik und Nanosystemforschung" der Österreichischen Akademie der Wissenschaften IBN in Graz (Österreich)


• gewählter Vorsitzender des "HASYLAB User Committee (HUC)" des Synchrotronstrahlungslabors HASYLAB in Hamburg (Deutschland)


• 11/04-03/09 Mitglied des subcommittee "Structure and Dynamic of soft-condensed matter" des ILL in Grenoble (Frankreich)

Collaboration:

• T. Andreev (Astrium GmbH)
• P. Böni (TUM, Physikdepartment, München) homepage
• Wolfgang Bruetting (Institute of Physics, University of Augsburg) homepage
• R. Cubitt , H. Lauter (ILL, Grenoble, France) homepage
• C. Egger (Keele University, Keele, UK) homepage
• V. Erb (Henkel, Düsseldorf)
• M. Foster (Department of Polymer Science, University of Akron, USA) homepage
• S. Förster (Physikalische Chemie I, Universität Bayreuth) homepage
• J.S. Gutmann (Institute of Physical Chemistry, University of Duisburg-Essen) homepage
• A. Holleitner (TUM, Walter-Schottky-Institut, München) homepage
• R. Kampmann (HZG Helmoltz Zentrum Geesthacht, Geesthacht) homepage
• T. Knappe (Schwarzkopf, Hamburg)
• U. Kulozik (TUM, Lehrstuhl für Lebensmittelverfahrenstechnik und Molkereitechnologie, Freising-Weihenstephan) homepage
• A. Laschewsky (Institut für Chemie, Potsdam) homepage
• J. A. Lercher (TUM, Department Chemie, München) homepage
• P. Lugli (TUM, INSTITUTE FOR NANOELECTRONICS, München) homepage
• M. Müller (Georg-August Universität, Göttingen) homepage
• M. Müller (HZG Helmoltz Zentrum Geesthacht, Geesthacht) homepage
• A. Nelson (ANSTO, New South Wales, Australia) homepage
• C.M. Papadakis (TUM, Physikdepartment, München) homepage
• C. Riekel, M. Burghammer (ESRF, Grenoble, France) homepage
• B. Rieger (TUM, Chemie, München) homepage
• S.V. Roth, R. Gehrke (HASYLAB, Hamburg) homepage
• L. Schmidt-Mende (Universität Konstanz)
• U. Steiner (Department of Physics, University of Cambridge, UK) homepage
• M. Stamm (Institut für Polymerforschung, Dresden) homepage
• T. Thurn-Albrecht (Experimentelle Polymerphysik, Universität Halle) homepage
• S. Valloppilly (LENS, Indiana University Cyclotron Facility, Bloomington, USA) homepage
• F. Varnik (ICAMS, Ruhr University Bochum) homepage
• N. Willenbacher (Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik, Universität Karlsruhe) homepage
• F. Winnik (Faculte de Pharmacie, Universite de Montreal) homepage
• D. Wulff (BASF, Ludwigshafen)
• O. Wunnicke (Infineon, Dresden)

Experimental Techniques:

• atomic force microscopy and scanning-force microscopy (non-contact and tapping mode)
• optical microscopy (video system, fluorescence, confocal, phase contrast etc.)
• x-ray reflectometry (thin film characterization)
• rotating anode based x-ray scattering (SAXS, WAXS)
• grazing incidence small-angle x-ray and neutron scattering (GISAXS and GISANS) - diffuse x-ray and neutron scattering
• optical spectroscopy (UVVis, Raman, Brillouin, Photoluminescens)
• solar simulation test system, EQE measurement set-up
• chemical surface preparation lab (including spin coater etc)
• contact angle measurements (dynamic, video system)
• imaging ellipsometry
• infra-red spectroscopy
• several other techniques are available upon request

last changes: 07.01.2013